多速率Serdes IP方案

為客戶提供1.25-12.5Gbps多速率SERDES IP方案。該方案平滑地集成了多SERDES通路，具有同級產(chǎn)品中最優(yōu)的性能、面積和功耗?？删幾g的PHY可以支持PCIe Gen 1/2/3, USB 3.0 / 3.1, XAUI, SATA Gen 1/2/3, CEI-11G-LR, 10GBase-KX4, JESD204B, SGMII/QSGMII, RAPID I/O, HSSTP （Trace Port）， V-By-One, DisplayPort和HMC等主流的接口標準。

YouPHY-Serdes 子系統(tǒng)

• 單一SERDES設計，滿足廣泛的標準，協(xié)議和速度。

• 任何組合都可以，例如USB-3.0, PCIe Gen-3和SATA Gen-3在一個單一的Combo SERDES。

• 內部低抖動鎖相環(huán)支持各種標準時鐘要求-不需要額外的組件。

• 靈活的設計-基于Tile的設計，使客戶可以選擇任何數(shù)量的Tx和Rx通道。

• 一次性努力設計，集成，驗證和硅驗證。

• 節(jié)省芯片區(qū)域，因為要求的標準少的時候，不需要重復邏輯。

特點

• 支持的發(fā)送和接收通道數(shù)量不等

• 數(shù)據(jù)速率可編程 1.25-12.5 Gbps

• 具有可編程輸出擺幅 100 – 1100 mVp2p 的發(fā)射驅動器

• 前/后光標發(fā)射均衡范圍 0 – 9db/12db，可編程步長為 20mV

• 自適應接收器均衡 (CTLE + DFE) 以支持在 6GHz 時插入損耗為 30db 的長距離信道

• 嵌入式低抖動鎖相環(huán) (PLL)

• 支持信標、低頻周期信令 (LFPS)、自動協(xié)商 (AN) 信令

• 豐富的 DFT 功能（AC-JTAG、Eye-scan、Loop-back、RX Sensitivity BIST、TX level BIST、PLL BIST）

• 數(shù)字固定和 TFT 掃描

• 用于與 SOC 掃描壓縮器集成的邊界掃描 (Extest)

• 可以在低成本數(shù)字測試儀上進行測試

   

  支持多種標準